RASTERSONDENMIKROSKOPIE / PRODUKTE


ULTRAObjective™

Die ideale Kombination von optischer und Rastersondenmikroskopie. Verbinden Sie die Vorzüge des einfachen Probenhandlings, der hohen optischen Qualität unserer Mikroskope und ihrer vielfältigen Kontrastarten mit den neuen extrem hochauflösenden Abbildungsmechanismen der Rastersondenmikroskopie.

Hersteller: Surface Imaging Systems GmbH
Auflösung: in X-Y-Z: < 1 nm="" />
Scanner: Single-Tubescanner mit integrierter Tastspitzenhalterung und Auslenkungsdetektion; Scannerlinearisierung durch Dehnmeßstreifensystem
Scanweite (Objektfeld): max. 30 µm x 30 µm (vertikal ca. 2 µm)
Tastspitzen: alle kommerziell erhältlichen verwendbar; Vormontiert auf eine Steckverbindung
Betriebsmoden: Standardmäßig Kontakt-AFM; Optional: MFM, LFM, Non-Contact AFM (Weitere in Vorbereitung)
Software: Windows-Software zur Datenerfassung, Bildauswertung- und Verarbeitung; Zusätzliche Bildverarbeitung optional
Mikroskope: Alle stabilen Zeiss-Stative wie Axioscop, Axioplan oder Axiotron Zentrierbares Auge im Revolver empfehlenswert
Abmessungen: Ø 38 mm, Länge 50 mm, Einschraubgewinde W 0,8 (abgestimmt auf Fokuslänge)

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Surface Imaging Systems GmbH
Innovationen in der Rastersondenmikroskopie

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