Ein neuartiges Objektiv öffnet der Mikroskopie neue Wege. Mit ihm kann die klassische Lichtmikroskopie und die höchstauflösende Rastersondenmikroskopie perfekt kombiniert werden.

Mit dem innovativen Objektiv - dem ULTRAObjective™ der Firma Surface Imaging Systems GmbH, Herzogenrath - stellt Carl Zeiss eine extrem leicht zu handhabende Lösung für eine Reihe sehr unterschiedlicher und bisher nur separat zu lösender Probleme vor. Das Auflösungsvermögen des optischen Mikroskops wird mit dem Objektiv bis hinunter zu einem Nanometer erweitert. Mikro- und Nanostrukturen können qualitativ und quantitativ charakterisiert werden.

Die hohe Ergonomie und Produktivität klassischer Mikroskopie mit ihren verschiedenen Kontrastarten wird um neue, nicht-optische Verfahren, wie Topografie-, Magnet- und Potentialkontrast erweitert.

Neben extrem hochaufgelösten Abbildungen lassen sich Vermessungen auf einfachste Weise durchführen. Die Anwendungsgebiete reichen dabei von neuen Werkstoffen über mikrobiologische und magnetische Objekte bis zu Halbleiterstrukturen.

Je nach der vorliegenden Aufgabe kann ULTRAObjective™ mit den verschiedenen Mikroskopen von Carl Zeiss kombiniert werden. Besonders leistungsfähige Lösungen ergeben sich mit den kürzlich vorgestellten neuen Universalmikroskopen für Forschung und Routine Axioplan 2 und Axiophot 2.

Das Objektiv wird in den Objektivrevolver eingeschraubt und ist somit in das lichtmikroskopische System integriert. Die relevanten Ausschnitte des mikroskopischen Objektes werden mit einem herkömmlichen Objektiv schnell und bequem gefunden und können dann mit ULTRAObjective™ im Detail untersucht werden.

Durch digitale Mikrofotografie oder Spektroskopie ist das Spektrum von möglichen Objektcharakterisierungen extrem breit, vom Millimeter bis zum Nanometer werden sechs Größenordnungen überstrichen.

ULTRAObjective™ erweitert die Lichtmikroskopie um neue, nicht-optische Kontrastarten, wie Topografie-, Magnet- und Potentialkontrast.

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